Im Surface Analytics Lab FHNW charakterisieren wir Oberflächen hinsichtlich Topographie, Rauheit, Reibungsverhalten, Oberflächenenergie oder Schichtdicken.
Angebot
Möchten Sie die Oberfläche Ihres Produkts besser verstehen? Wir bieten Ihnen mit abbildenden und spektroskopischen Methoden die Möglichkeit dazu. Sei es Reibung oder Verschleiss, Kontaktwinkel oder Schichtdicke, Strukturen oder Rauheit: wir charakterisieren Oberflächen für Sie.
Kontaktieren Sie uns
Für weitere Informationen oder um eine Zusammenarbeit zu besprechen, kontaktieren Sie Laurent Feuz.
Infrastruktur
Abbildende Methoden
- Konfokal-Laser Scanning Mikroskop
- Digital-Lichtmikroskop
- Rasterelektronenmikroskop
- Atomkraftmikroskop
Spektroskopische Methoden
- ATR-IR
- Raman
Weitere Charakterisierungen
- Tribologie (Reibung, Verschleiss)
- Oberflächenenergie, Kontaktwinkel
- Schichtdicken (Ellipsometrie)
Das Surface Analytics Lab gehört zum Institut für Nanotechnische Kunststoffanwendungen FHNW
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